Подходы к созданию эталона единицы длины в области измерений межплоскостных расстояний кристаллов представили уральские метрологи
Проблемы предприятий и аналитических лабораторий в метрологическом обеспечении метода рентгеновской дифракции обсудили в рамках I Международного симпозиума "Актуальные вопросы в области измерений геометрических величин" специалисты уральского филиала ВНИИМ им.Д.И.Менделеева (Росстандарт).
Доклад заместителя заведующего лабораторией метрологического обеспечения наноиндустрии, спектральных методов анализа и стандартных образцов Елены Вострокнутовой был подготовлен в соавторстве с директором филиала Егором Собиной и заместителем директора филиала по науке Павлом Мигалем.
"ФГУП "ВНИИМ им.Д.И.Менделеева", на базе которого функционирует научно-методический центр Государственной службы стандартных образцов, неоднократно при проведении анализа и мониторинга потребностей в области стандартных образцов обращал внимание профессионального сообщества на необходимость разработки отечественных стандартных образцов дифракционных свойств. Но прежде чем разрабатывать стандартные образцы, которые будут доступны широкому кругу потребителей, необходимо создать эталонную базу, обеспечивающую метрологическую прослеживаемость аттестованных значений стандартных образцов", - пояснила Елена Вострокнутова.
Основные отрасли, применяющие рентгеновские дифрактометры, - горнодобывающая промышленность, геология, металлургия, машиностроение, строительство, научные исследования, охрана окружающей среды.
Возрастающие потребности промышленности Российской Федерации и современное состояние метрологического обеспечения метода рентгеновской дифракции приводят к необходимости создания государственного эталона как основы для разработок отечественных стандартных образцов дифракционных свойств и формирования суверенитета Российской Федерации в данной области.
Источник:
