УНИИМ представил научному сообществу новую методику количественного определения плотности материалов покрытий
Результаты исследований в области измерений плотности нанесенных покрытий представила ведущий инженер лаборатории термометрии и поверхностной плотности уральского филиала ВНИИМ им.Д.И.Менделеева (Росстандарт) Мария Шипицына на XXXVI Уральской конференции с международным участием "Физические методы неразрушающего контроля (Янусовские чтения)" в марте 2025 г., организованной в рамках международной выставки "Металлообработка. Сварка - Урал" в МВЦ "Екатеринбург-Экспо".
Конференция, организованная Институтом физики металлов имени М.Н.Михеева Уральского отделения Российской академии наук, собрала представителей научного сообщества, а также разработчиков технологий и производителей оборудования и материалов для строительной индустрии, представителей сферы надзора и контроля, в том числе - метрологического.
Доклад "Метрологическое обеспечение измерений плотности материалов покрытий" содержал информацию о ходе и результатах исследований в области измерений плотности нанесенных покрытий. Целью работы была разработка методики измерений плотности покрытий для дальнейшего совершенствования измерений толщины покрытий методом рентгенофлуоресцентного анализа. На конференции была представлена физико-математическая модель измерений плотности материалов покрытий на основе гидростатического взвешивания и сделаны выводы о влияющих на эту модель факторах.
В своей работе исследователи доказали реализуемость предложенной физико-математической модели измерений плотности металлических покрытий. В перспективе применение новой модели позволит установить параметры для изготовления стандартных образцов толщины металлических покрытий для поверки, калибровки и градуировки средств измерений, основанных на неразрушающих методах контроля параметров покрытий.
Уральские метрологи отмечают востребованность основанных на рентгенофлуоресцентном методе средств измерений, особенно возросшую в связи с внедрением современных технологий нанесения многокомпонентных и многослойных покрытий. В этой связи в УНИИМ продолжается поиск возможностей для повышения точности измерений с использованием таких СИ.
Источник:
https://uniim.ru/news260325/
