ВНИИФТРИ приглашает на конференцию "Метрология в радиоэлектронике"

Исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений (ВНИИФТРИ) при поддержке Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) приглашает принять участие в XIV Всероссийской конференции "Метрология в радиоэлектронике". Мероприятие состоится с 17 по 19 июня в Нижнем Новгороде.


"ВНИИФТРИ является хранителем крупнейшей базы Государственных первичных радиотехнических эталонов в России, результаты наших исследований востребованы как в научной среде, так и в промышленности. Приборы, созданные на основе наших разработок, сегодня успешно замещают импортные аналоги, отличаясь высокой точностью и рядом конкурентных преимуществ. Конференция "Метрология в радиоэлектронике" традиционно становится площадкой для обсуждения инноваций, обмена опытом и поиска решений в области радиотехнических измерений", - говорит заместитель генерального директора ФГУП "ВНИИФТРИ" по радиотехническим измерениям Иван Малай.


В программе конференции предусмотрены пленарные заседания и доклады в рамках тематических секций, где будут освещены ключевые направления и современные тенденции развития радиотехнических и радиоэлектронных измерений; обеспечение единства радиотехнических и радиоэлектронных измерений; метрологическое обеспечение в радиотехнических приложениях и другие.


Прием заявок на участие в конференции (с докладом), научных статей и тезисов докладов, а также рекламы и предложений в материалы специальных заседаний (круглых столов) по тематике научно-технической конференции осуществляется до 30 апреля 2025 года.


Уведомление авторов о включении в программу конференции, прием заявок на участие в конференции без доклада, а также предложений в проект Решения осуществляется до 30 мая 2025 г.


Более подробная информация о конференции, требования к оформлению тезисов докладов, а также сроки подачи материалов представлены на сайте https://mre.vniiftri.ru.


По материалам:

https://www.vniiftri.ru/press/news/vniiftri-priglashaet-na-konferentsiyu-metrologiya-v-radioelektronike/